Produktneuheit 28. April 2025
Oberflächen exakt vermessen
Aerotech zeigt hochpräzise Lösungen für die Analyse von Oberflächen, leistungsfähige Bewegungssteuerungssysteme sowie die Integration fortschrittlicher Messverfahren. Ergänzend dazu stellt die Aerotech-Tochter Peak Metrology innovative Positioniersysteme vor, die speziell für großformatige Prüfanwendungen entwickelt wurden.
Die Aerotech-Tochter Peak Metrology wird ebenfalls am Messestand vertreten sein, um ein leistungsstarkes Positioniersystem aus der Kooperation mit Messtechnikspezialist Keyence vorzustellen. Peak Metrology entwickelt Standard- und Sonderausrüstungen für hochgenaue Mess- und Inspektionsverfahren.
„Der Markt für Digitalmikroskope boomt, doch bestehende Systeme stoßen schnell an ihre Grenzen“, erklärt RJ Hardt, Präsident von Peak Metrology. „Wir bieten unseren Kunden Lösungen, mit denen auch größere Teile präzise gemessen werden können.“
Das Demosystem auf der Control ist ein automatisiertes, berührungsloses 3D-Oberflächenmessgerät. Es kombiniert modernste Laserlinien-Scantechnologie mit hochpräzisen Positioniertischen für lineare und rotierende Bewegungen. Die integrierte Peak CaptureUI-Datenerfassungs- und Messsoftware sowie die Peak Image Topographie-Analysesoftware ermöglichen eine detaillierte 3D-Oberflächenprofilometrie und -analyse im Mikrometerbereich.
Dank seiner Vielseitigkeit eignet sich das System ideal für die präzise Messung und Analyse von Oberflächen unterschiedlichster Größe und Komplexität in Labor- und Produktionsumgebungen. Die Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung erreicht dabei nahezu die grundlegenden Grenzen der Messgenauigkeit und -zuverlässigkeit. Dies wird durch die Kombination erstklassiger Bewegungssteuerungsgeräte mit branchenführenden Messsensoren realisiert. Besonders in der Qualitätssicherung innerhalb der Produktionskette – beispielsweise bei der Wafer-Inspektion oder der Herstellung von Flachbildschirmen – sind leistungsfähige Positioniersysteme unverzichtbar.
Die Aerotech-Tochter Peak Metrology wird ebenfalls am Messestand vertreten sein, um ein leistungsstarkes Positioniersystem aus der Kooperation mit Messtechnikspezialist Keyence vorzustellen. Peak Metrology entwickelt Standard- und Sonderausrüstungen für hochgenaue Mess- und Inspektionsverfahren.
„Der Markt für Digitalmikroskope boomt, doch bestehende Systeme stoßen schnell an ihre Grenzen“, erklärt RJ Hardt, Präsident von Peak Metrology. „Wir bieten unseren Kunden Lösungen, mit denen auch größere Teile präzise gemessen werden können.“
Das Demosystem auf der Control ist ein automatisiertes, berührungsloses 3D-Oberflächenmessgerät. Es kombiniert modernste Laserlinien-Scantechnologie mit hochpräzisen Positioniertischen für lineare und rotierende Bewegungen. Die integrierte Peak CaptureUI-Datenerfassungs- und Messsoftware sowie die Peak Image Topographie-Analysesoftware ermöglichen eine detaillierte 3D-Oberflächenprofilometrie und -analyse im Mikrometerbereich.
Dank seiner Vielseitigkeit eignet sich das System ideal für die präzise Messung und Analyse von Oberflächen unterschiedlichster Größe und Komplexität in Labor- und Produktionsumgebungen. Die Hochgeschwindigkeits-Datenerfassung erreicht dabei nahezu die grundlegenden Grenzen der Messgenauigkeit und -zuverlässigkeit. Dies wird durch die Kombination erstklassiger Bewegungssteuerungsgeräte mit branchenführenden Messsensoren realisiert. Besonders in der Qualitätssicherung innerhalb der Produktionskette – beispielsweise bei der Wafer-Inspektion oder der Herstellung von Flachbildschirmen – sind leistungsfähige Positioniersysteme unverzichtbar.
Aerotech GmbH
Ansprechpartner
Herr Uwe Fischer